微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定 |
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| 標準編號：GB/T 17473.5-2008 |
標準狀態：現行 |
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| 標準價格：24.0 元 |
客戶評分：  |
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本標準是對ＧＢ／Ｔ１７４７３—１９９８《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法》（所有部分）的整合修訂，分為７個部分,本部分為ＧＢ／Ｔ１７４７３—２００８的第５部分。 本標準規定了微電子技術用貴金屬漿料中 粘度的測定方法。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定》。
本部分與ＧＢ／Ｔ１７４７３．５—１９９８相比，主要有如下變化：
———將原標準名稱修改為：微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定；
———將原標準中范圍去除“非貴金屬電子漿料粘度測定也可參照本標準執行” |
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| 英文名稱： |
Test methods of pastes used for microelectronics - Determination of viscosity |
 替代情況： |
替代GB/T 17473.5-1998 |
| 中標分類： |
冶金>>有色金屬及其合金產品>>H68貴金屬及其合金 |
| ICS分類： |
冶金>>有色金屬>>77.120.99其他有色金屬及其合金 |
| 發布部門： |
中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會 |
| 發布日期： |
2008-03-31 |
| 實施日期： |
2008-09-01
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| 首發日期： |
1998-08-19 |
| 提出單位： |
中國有色金屬工業協會 |
| 歸口單位： |
全國有色金屬標準化技術委員會 |
| 主管部門： |
中國有色金屬工業協會 |
| 起草單位： |
貴研鉑業股份有限公司 |
| 起草人： |
馬曉峰、李文琳、張桂珍、陳伏生、朱武勛、李晉 |
| 計劃單號： |
20062656-T-610 |
| 頁數： |
8頁 |
| 出版社： |
中國標準出版社 |
| 出版日期： |
2008-09-01 |
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本標準是對GB/T17473-1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法》(所有部分)的整合修訂,分為7個部分:
---GB/T17473.1-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 固體含量測定;
---GB/T17473.2-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 細度測定;
---GB/T17473.3-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 方阻測定;
---GB/T17473.4-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 附著力測試;
---GB/T17473.5-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定;
---GB/T17473.6-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 分辨率測定;
---GB/T17473.7-2008 微電子技術用貴金屬漿料測試方法 可焊性、耐焊性測定。
本部分為GB/T17473-2008的第5部分。
本部分代替GB/T17473.5-1998《厚膜微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定》。
本部分與GB/T17473.5-1998相比,主要有如下變化:
---將原標準名稱修改為:微電子技術用貴金屬漿料測試方法 粘度測定;
---將原標準中范圍去除非貴金屬電子漿料粘度測定也可參照本標準執行內容;
---增加了采用錐/板粘度計測定內容,適用于樣品較少時的情況下使用。
本部分由中國有色金屬工業協會提出。
本部分由全國有色金屬標準化技術委員會歸口。
本部分由貴研鉑業股份有限公司負責起草。
本部分主要起草人:馬曉峰、李文琳、張桂珍、陳伏生、朱武勛、李晉。
本部分代替版本的發布情況為:
---GB/T17473.5-1998。 |
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下列文件中的條款通過本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。
GB/T8170 數值修約規則 |
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