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| 英文名稱： |
General reliability test requirements and test methods for power semiconductor devices in electric vehicle applications |
 中標分類： |
電子元器件與信息技術>>電子元器件與信息技術綜合>>L04基礎標準與通用方法 |
| ICS分類： |
31.080.01;19.020 |
| 發布部門： |
中關村天合寬禁帶半導體技術創新聯盟 |
| 發布日期： |
2017-12-20 |
| 實施日期： |
2017-12-31
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| 提出單位： |
中關村天合寬禁帶半導體技術創新聯盟 |
| 歸口單位： |
中關村天合寬禁帶半導體技術創新聯盟 |
| 起草單位： |
中關村天合寬禁帶半導體技術創新聯盟、中國科學院電工研究所、北汽電動汽車股份有限公司、大洋電機新動力科技有限公司、北京天科合達半導體股份有限公司、泰科天潤半導體科技（北京）有限公司等 |
| 起草人： |
張瑾、仇志杰、葛亮、孔亮、陳彤、劉志宏、張舟云、張琴、王志超、楊壽國、陸敏、彭同華、劉振洲 |
| 頁數： |
20頁【彩圖】 |
| 出版社： |
中國質檢出版社 |
| 出版日期： |
2018-02-01 |