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 您的位置:工標網 >> 標準分類 >> ICS分類 >> 計量學和測量、物理現象 >> 光學和光學測量 >>17.180.01 光學和光學測量綜合
標準編號 標準名稱 發布部門 實施日期 狀態
 JC/T 2688-2022  標線用激光模組 工業和信息化部 2023-04-01 現行
 GB/T 1224-1999  幾何光學術語、符號 國家質量技術監督局 2000-05-01 作廢
 GB/T 1224-2016  幾何光學術語、符號 國家質量監督檢驗檢疫. 2017-03-01 現行
 GB/T 13742-2009  光學傳遞函數測量準確度 國家質量監督檢驗檢疫. 2009-12-01 現行
 GB/T 16601-1996  光學表面激光損傷閾值測試方法 第1部分:1對1測試 國家技術監督局 1997-04-01 作廢
 GB/T 16863-1997  晶體折射率的試驗方法 國家技術監督局 1997-12-01 現行
 GB/T 16864-1997  低溫下晶體透射率的試驗方法 國家技術監督局 1997-12-01 現行
 GB/Z 21738-2008  一維納米材料的基本結構 高分辨透射電子顯微鏡檢測方法 國家質量監督檢驗檢疫. 2008-11-01 現行
 GB/T 26598-2011  光學儀器用透明導電薄膜規范 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-11-01 現行
 GB/T 26828-2011  多光譜減反射膜規范 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-12-01 現行
 GB/T 26829-2011  脈沖激光測距儀 測距參數的室內測試方法 國家質量監督檢驗檢疫. 2011-12-01 現行
 GB/T 30543-2014  納米技術 單壁碳納米管的透射電子顯微術表征方法 國家質量監督檢驗檢疫. 2014-11-01 現行
 GB/T 31010-2014  色散型高光譜遙感器實驗室光譜定標 國家質量監督檢驗檢疫. 2015-02-01 現行
 GB/T 31010-2014E  色散型高光譜遙感器實驗室光譜定標 國家質量監督檢驗檢疫. 2015-02-01 現行
 GB/T 34831-2017  納米技術 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環形暗場法 國家質量監督檢驗檢疫. 2018-05-01 現行
 GB/T 34831-2017E  納米技術 貴金屬納米顆粒電子顯微鏡成像 高角環形暗場法(英文版) 國家質量監督檢驗檢疫. 2018-05-01 現行
 GB/T 40293-2021  紅外硫系光學薄膜折射率測試方法 國家市場監督管理總局. 2022-03-01 現行
 GB/T 42208-2022  納米技術 多相體系中納米顆粒粒徑測量 透射電鏡圖像法 國家市場監督管理總局. 2023-07-01 現行
 GB/Z 43082-2023  月球與行星原位探測相機通用規范 國家市場監督管理總局. 2023-11-27 現行
 GB/T 44436-2024  軟X射線-極紫外波段空間成像儀器實驗室檢測與定標方法 國家市場監督管理總局. 2024-09-29 現行
 GB 5699-1985  采光測量方法 國家標準局 1986-09-01 作廢
 JB/T 8237-1999  直角棱鏡 全國光學和光學儀器標. 2000-01-01 作廢
 JB/T 8238-1999  光學儀器用齒紋 國家機械工業局 2000-01-01 廢止
 JB/T 8240-1999  光學儀器用目鏡螺紋 國家機械工業局 2000-01-01 廢止
 JB/T 9311-1999  光學儀器 產品型號命名方法 國家機械工業局 2000-01-01 廢止
 JB/T 9330-1999  光學儀器用可變光闌片基本參數 國家機械工業局 2000-01-01 廢止
 JB/T 9333-1999  顯微鏡光學顯微術通用浸油 國家機械工業局 2000-01-01 廢止
 JB/T 9334-1999  顯微鏡 光譜濾光片基本規格 2000-01-01 廢止
 JC/T 2418-2017  摻釹硼酸氧鈣釓釔激光自倍頻晶體通用技術條件及測試方法 工業和信息化部 2017-10-01 現行
 JC/T 2419-2017  光參量振蕩用磷酸氧鈦鉀晶體 工業和信息化部 2017-10-01 現行
 JC/T 2512-2019  全固態激光器用高抗灰跡磷酸鈦氧鉀單晶元件技術要求 工業和信息化部 2019-11-01 現行
 JC/T 2513-2019  磷酸鈦氧鉀單晶元件抗灰跡性能測試方法 工業和信息化部 2019-11-01 現行
 JC/T 2613-2021  鈦寶石激光晶體 工業和信息化部 2021-07-01 現行
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 17.180.01 光學和光學測量綜合[13] 17.180.20 顏色和光的測量[51] 17.180.30 光學測量儀器[90]
 17.180.99 有關光學和光學測量的其他標準[6]    
 
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