| 標準編號 |
標準名稱 |
發布部門 |
實施日期 |
狀態 |
| SJ 50920/6-2005 |
RN1052型膜固定電阻網絡詳細規范 |
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2006-06-01 |
現行 |
| SJ 50920/7-2005 |
RN1062型膜固定電阻網絡詳細規范 |
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2006-06-01 |
現行 |
| SJ 50920/8-2005 |
RN1072型膜固定電阻網絡詳細規范 |
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2006-06-01 |
現行 |
| SJ 50920/9-2005 |
RN1092型膜固定電阻網絡詳細規范 |
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2006-06-01 |
現行 |
| SJ 51215/1-2004 |
ZB2-SMAJ/SMAJ-63.8A和ZB2-SMAJ/SMAJ-63.8B型半硬電纜組件詳細規范 |
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2004-12-01 |
現行 |
| SN/T 2003.1-2005 |
電子電氣產品中鉛、汞、鎘、鉻、溴的測定 第1部分:X射線熒光光譜定性篩選法 |
國家質量監督檢驗檢疫.
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2006-01-18 |
廢止 |
| SN/T 2003.2-2006 |
電子電氣產品中多溴聯苯和多溴二苯醚的測定 第2部分：紅外光譜定性篩選法 |
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2006-11-15 |
現行 |
| SN/T 2003.3-2006 |
電子電氣產品中鉛、汞、鎘、鉻和溴的測定 第3部分：X光射線熒光定量篩選法 |
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2006-11-15 |
廢止 |
| SN/T 2004.1-2005 |
電子電氣產品中汞的測定 第1部分:原子熒光光譜法 |
國家質量監督檢驗檢疫.
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2006-01-18 |
廢止 |
| SN/T 2004.2-2005 |
電子電氣產品中鉛、鎘、鉻的測定 第2部分:火焰原子吸收光譜法 |
國家質量監督檢驗檢疫.
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2006-01-18 |
廢止 |
| SN/T 2004.3-2005 |
電子電氣產品中六價鉻的測定 第3部分:二苯碳酰二肼分光光度法 |
國家質量監督檢驗檢疫.
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2006-01-18 |
廢止 |
| SN/T 2004.4-2006 |
電子電氣產品中鉛、鎘、鉻、汞的測定 笫4部分：電感耦合等離子體原子發射光譜法 |
國家質量監督檢驗檢疫.
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2006-11-15 |
現行 |
| SN/T 2004.6-2006 |
電子電氣產品中汞的測定 第6部分:冷原子吸收法 |
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2007-03-01 |
廢止 |
| SN/T 2004.7-2006 |
電子電氣產品中鉛、鎘的測定 第7部分:原子熒光光譜法 |
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2007-03-01 |
現行 |
| SN/T 2005.1-2005 |
電子電氣產品中多溴聯苯和多溴聯苯醚的測定 第1部分：高效液相色譜法 |
國家質量監督檢驗檢疫.
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2006-01-18 |
廢止 |
| SN/T 2005.2-2005 |
電子電氣產品中多溴聯苯和多溴聯苯醚的測定第部分：氣相色譜質譜法 |
國家質量監督檢驗檢疫.
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2006-01-18 |
廢止 |
| SN/T 2005.3-2006 |
電子電氣產品中多溴聯苯和多溴二苯醚的測定 第3部分：氣象色譜-氫火焰離子化檢測器 |
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2006-11-15 |
廢止 |
| SN/T 2005.5-2006 |
電子電氣產品中多溴聯苯和多溴二苯醚的測定 第5部分:高效液相色譜-串聯質譜法 |
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2007-03-01 |
現行 |
| SN/T 5688-2024 |
聚酰胺種類的鑒定 熱裂解氣相色譜-質譜法 |
海關總署
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2025-07-01 |
即將實施 |
| T/CIE 144-2022 |
半導體器件可靠性強化試驗方法 |
中國電子學會
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2023-01-31 |
現行 |
| T/CIE 150-2022 |
現場可編程門陣列（FPGA）芯片時序可靠性測試規范 |
中國電子學會
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2023-01-31 |
現行 |
| T/CIE 151-2022 |
現場可編程門陣列（FPGA）芯片動態老化試驗方法 |
中國電子學會
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2023-01-31 |
現行 |
| T/QGCML 2162-2023 |
磷酸鐵鋰正極材料產線規范要求 |
全國城市工業品貿易中.
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2023-11-25 |
現行 |
| T/QGCML 2290-2023 |
筆記本電腦轉軸蓋 |
全國城市工業品貿易中.
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2023-12-06 |
現行 |
| T/SLDHIA 4000-2024 |
LED室內照明智能控制技術規范 |
深圳市龍崗區高新技術.
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2024-01-31 |
現行 |
| T/SLEIA 0002-2024 |
電子元器件低頻噪聲特性測試標準 |
深圳市龍崗區電子行業.
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2024-02-26 |
現行 |